高分辨: 10.1英寸, 分辦率1280*800, 电容式触摸屏
高稳定性和一致性: 14个量程配置
高功率:信号电平: 20V/100mA
内置直流偏置: +40V/100mA
内置偏流源: 2A
DCR电平: 20V/100mA
高速度:双CPU架构,最快达1800次/S的测试速度
点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
四参数测量
201点多参数列表扫描功能
图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏
分选功能: LCR模式10档分选
高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,
兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、 HP4284A
同惠 TH2840B 精密LCR数字电桥
技术资料下载:TH2840B规格书 TH2840B说明书
A.10.1寸大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
10.1寸触摸屏、1280*800分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来的是无以伦比的操作便捷
性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥
挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比,操作便捷性、显示完整性一目了然。
B.高达1800次/秒测量速度
由于创新性的采用了双CPU设计,一个CPU负责测试处理数据,另一个CPU负责显示数据,因此TH2840测试速度高达1800次/秒。
高速的测试速度在自动化产线可以极大的提高效率。
对于部分需要实时采样体现被测件瞬态变化特征,或者测量变化过程相应时间,TH2840系列0.56ms的测量速度可完美解决。
如下列应用,在两个极板之间加载偏压,两端电容随着偏置电压变化而变化.
记录未加偏置时电容C0
偏置上升过程中的电容值
偏压达到20V并且稳定之后的电容C1
计算从C0-C1之间的稳定时间Th。
常规的LCR数字电桥,由于测试速度限制,采样率无法达到几
乎实时采集,用TH2840系列双CPU,可实时观察变化过程并计算
出稳定时间。
TH2840X上位机
电容测试 CH1: AD脉冲(黄色)
测试频率:1MHz CH2: DC BIAS 打开(绿色)
量程:100Ω CH4: DC BIAS 上升(红色)
上升瞬间波形 全部波形
C.超强硬件配置
除了双CPU设计,TH2840系列也增强了其他硬件配置参数:
1. AC测试电平提升至20Vrms/100mA,同类产品仅TH2838H可达到,在测试C-V曲线时范围更广
2. DC偏置为±40V/±100mA,为同类产品最高配置
3. 标配独立2A直流偏置电流源,为2A电流以内电感测试带来福音,支持外界TH1778A系列扩展至120A。
4. DCR测试电平提升至20V,测试mH级及以上电感更快速稳定精确。
D.改进的分选设置
针对以往LCR分选设置及参考设
置来回切换等过于复杂的操作,做出
了如下改进以便于客户使用及设置:
1. 合并标称值和参考值的设置
2. 由于直接采用了4参数测量及
分选,因此取消附属档、副参
数档。
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E.增强的列表扫描功能 F.强大的分析图形界面
可设置4个测量参数,4个测量参数有独立开关,列表扫 4个扫描轨迹,1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以
描每个点的频率,电平,偏置,功能,延时都可以独立设置,满足了 一分屏、二分屏、四分屏。
大多数客户的需求。
G.10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可 在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口
能,分选结果直接输出至HANDLER接口。 输出,一直是自动化客户的难题,TH2840系列LCR将
HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式
等完全可视化,让自动化连接更简单。
H.智能固件升级方式
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。
TH2840系列LCR数字电桥固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优盘
甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
I.选配附件
- 应用
-
■ 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特
性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
■ 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的
介电常数、弹性常数等C-V特性
■ 各种传感器:
电子皮肤、振镜图像滤光阵列传感器