HIOKI 阻抗分析仪IM3570

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HIOKI 阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

• 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
• LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
• 基本精度±0.08%的高精度测量
• 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
• 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
• 可以用于无线充电评价系统TS2400
• 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。