NF ZA57630 阻抗分析仪

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“True Value”   测量真正的特性。

从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求

快速测量 业界最快 0.5 ms/point

实现了业界最快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间，提高测量作业的效率。
此外，通过增加设定的测量时间，使测量结果平均化，减轻噪声的影响。可视需要选择最合适的测量时间。

4种测量模式  应对广泛的DUT

IMPD-3T　标准测量模式

本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具，应对各种形状的试样。

IMPD-2T　高频测量模式

本模式可以在 10MHz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 N 型连接器进行 2 端子测量，即便配线长，也可以进行稳定的测量。

IMPD-EXT　外部扩展测量模式

本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。

G-PH　增益/相位测量模式

本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号，高精度地测量其频率响应（增益、相位）。

正面面板测量端子