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多频近场探头测试系统，方便在开发和设计验证阶段，测量板卡不同单元的EMI辐射功率和参数（开关电源辐射，射频泄漏，高速时钟和数据线电磁泄漏，腔体谐振等），加速EMC合规整改过程。

EMI近场探头测试

ꄴ前一个： 静电放电抗扰度(ESD)
ꄲ后一个： LCR测试

产品详情

多频近场探头测试系统，方便在开发和设计验证阶段，测量板卡不同单元的EMI辐射功率和参数（开关电源辐射，射频泄漏，高速时钟和数据线电磁泄漏，腔体谐振等），加速EMC合规整改过程。